Сканирующие спектрофотометры PHOTON RT

Применение:
Измерение пропускания и отражения под углами падения излучения от 0 до 75 градусов
* Входит в базовый комплект поставки прибора

Возможности:
- Для измерения плоских образцов
- Пропускание / Отражение
- Переменные углы падения излучения до 75 градусов

Заказ:
№ 048.010.000 

Применение:
Измерение пропускания и отражения призм
* Входит в базовый комплект поставки прибора

Возможности:
- Пропускание / Отражение
- Различные углы падения излучения
- Автоматическая компенсация смещения луча в зависимости от показателя преломления, толщины детали, угла падения излучения 

Заказ:
1. База столика: № 048.027.000
2. Вставки:
- 1": № 033.016.108
- 1/2": № 033.016.110
- Вставки для измерения призм других форм и размеров также возможны по запросу 

Применение:
Последовательная калибровка базовой линии и измерение образцов равного диаметра

Возможности:
- Пропускание/ Отражение
- Переменные углы падения излучения до 45 градусов

Заказ:
1. База столика: № 048.038.000
2. Многопозиционное колесо:
Метрические
- 30,0 мм х 10 поз: № 048.038.660
- 25,0 мм х 10 поз: № 048.038.640
- 12,5 мм х 20 поз: № 048.038.610

Дюймовые
- 1" х 10 поз: № 048.038.650
- 1/2" х 20 поз: № 048.038.620
- Многопозиционные колеса с другим числом и диаметром позиций также возможны по запросу

Применение:
Картирование образца для проверки равномерности покрытия

Возможности:
- Диапазон по X: +/-25,0 мм
- Диапазон по Y: +/-20,0 мм
- Область картирования: 50,0 х 40,0 мм
- Макс размер образца: 134,0 x 91,0 мм
- Пропускание / Отражение
- Переменные углы падения излучения до 45 градусов

Заказ:
№ 048.028.100

Применение:
Картирование образца для проверки равномерности покрытия

Возможности:
- Диапазон по X: +/-55,0 мм
- Диапазон по Y: +/-20,0 мм
- Область картирования: 110,0 х 40,0 мм
- Макс размер образца: 180,0 х 91,0 мм
- Пропускание
- Переменные углы падения излучения до 10 градусов

Заказ:
№ 048.028.200

Применение:
3D измерение свойств отражения или пропускания при вращении образца вокруг оптической оси и изменению углов и / или направления падения излучения

Возможности:
- Обеспечивает вращение образца вокруг оптической оси в диапазоне 0 - 360 градусов
- Макс размер образца: Ø 70,0 мм
- Мин размер образца: Ø 25,0 мм
- Пропускание / Отражение
- Переменные углы падения излучения до 60 градусов

Заказ: 
№ 048.034.000

Применение:
Автоматическая калибровка базовой линии и проведение измерения детали без открывания крышки прибора. Особенно удобно при необходимости выдержать прибор и образец в контролируемой атмосфере (например, продувка азотом) и выполнить калибровку и измерение в идентичных условиях

Возможности:
- Пропускание / Отражение
- Переменные углы падения излучения до 75 градусов

Заказ:
№ 048.032.000

Применение:
Измерение пропускания и отражения под предельными углами падения излучения от 70 до 85 градусов

Возможности:
- Пропускание / Отражение
- Переменные углы падения излучения до 70 - 85 градусов

Заказ:
№ 048.033.000

Применение:
Измерение пропускания четвертьволновых (фазовых) пластин

Возможности:
- Фазовая пластинка устанавливается и фиксируется с углом разворота 3 градуса по отношению к лучу
- Фазовая пластинка вращается рукояткой вручную на угол +/-45 градусов
- Диаметр фазовой пластинки: 1” (25,4 мм)
- Высококонтрастный анализатор встроен в столик, юстирован. Чистая апертура 9,0 x 9,0 мм, внешний Ø 20,0 мм, спектральный диапазон 350 - 2200 нм

Заказ:
№ 048.035.000

Конструкции современных оптических приборов требуют применения оптических покрытий, работающих при больших углах падения излучения.

Типичным примером являются угол 45⁰ или угол Брюстера. Также, все большее распространение получают покрытия, работающие под углами 72⁰. Возможность надежных измерений пропускания и отражения подобных покрытий уже давно реализована в спектрофотометре PHOTON RT.

Несколько наших клиентов недавно обратились к нам с просьбой разработать решение для измерения покрытий при предельных углах падения излучения, например 80⁰ или 85⁰. В этом случае луч проходит очень близко к поверхности подложки, поэтому проекция луча существенно увеличивается. Кроме того, вся энергия излучения должна попадать на измеряемую деталь и достигать фотоприёмника без каких-либо потерь, как в режиме пропускания, так и отражения. Наконец, S и P компоненты поляризации должны быть четко определены, разделены и измерены.

Для решения этой задачи инженеры компании «ЭссентОптикс» разработали отдельный предметный столик «7085» для плавного измерения пропускания и отражения при углах падения излучения от 70⁰ до 85⁰.

На изображениях ниже показан предметный столик «7085» с установленным образцом, а также результаты измерений пропускания и отражения при 8⁰, 70⁰ и 85⁰ для S и P поляризации. Для тестов было использовано широкополосное зеркало с высоким коэффициентом отражения. Результаты подтверждают, что даже при предельных углах падения излучения подобные измерения успешно выполняются с помощью спектрофотометра PHOTON RT.

В оптических приборах «стандартных» размеров образцов как таковых не существует, однако чаще всего наши клиенты используют образцы размером 1 дюйм для деталей-свидетелей или образцы диаметром 10,0 мм и более для применения в конечных изделиях. Тем не менее, существует множество примеров использования оптических деталей меньшего размера, например диаметром 5,0, 4,0 и даже 3,0 мм. Оптические характеристики таких деталей в большинстве случаев измеряются либо с ошибками, либо не измеряются вообще. Поэтому в подобных случаях обычно используются свидетели для оценки характеристик пропускания или отражения. Свидетели размещаются либо в устройстве смены тестовых образцов, либо на арматуре в непосредственной близости от напыляемых деталей. В зависимости от уровня равномерности напыления, достижимого в вакуумной камере, покрытие «рабочей» детали может иметь определенную степень несоответствия с покрытием на контрольном образце.

Мы получили ряд запросов на поиск решения для измерения образцов небольших размеров. Изначально мы предоставили нашим клиентам несколько различных насадок-диафрагм, которые уменьшают размер пятна на образце. Однако их использование связано с дополнительными затратами времени инженера на тщательную юстировку.

Инженеры компании ЭссентОптикс искали решение этой задачи в течение нескольких лет. Итогом работы стала абсолютно новая конструкция моторизованных щелей, которая теперь позволяет одним нажатием кнопки плавно изменять размер светового пятна на измеряемой детали с 6,0 x 2,0 мм до 2,0 x 2,0 мм. Инженер может установить желаемый размер пятна в соответствии с фактическим световым размером образца. Видео ниже демонстрирует процесс изменения размера светового пятна на образце с помощью спектрофотометра PHOTON RT.

Измерения покрытий в ультрафиолетовой области спектра часто встречаются в оптической промышленности. Сами покрытия находят применение во многих областях:

• Алюминиевые УФ зеркала: используются в лазерах и в оптических системах иных типов для управления лучом или для его отражения. Такие зеркала обычно работают в диапазоне углов от 0 до 45⁰, с учетом S и Р поляризации. Типичные области применения УФ зеркал – оборудование для УФ отверждения и УФ облучения, системы дезинфекции, медицинские инструменты, оптические фильтры и иные устройства, где требуется выделение ультрафиолетового тепла или излучения.
• Отражающие УФ покрытия: увеличивают пропускание и усиливают контраст. Они также уменьшают рассеянный свет в устройствах формирования изображений и отражения светоделителей от второй поверхности.
• УФ светоделители, УФ режекторные фильтры и узкополосные / широкополосные УФ фильтры: разработаны для применений с низким энергопотреблением и используются во многих исследовательских и промышленных установках.

Следующие специфические особенности спектрофотометров метрологического уровня являются необходимыми предпосылками для проведения точных измерений УФ покрытий:

• Низкий уровень шума/ высокая стабильность базовой линии
• Низкий уровень собственных шумов прибора
• Низкий уровень рассеянного света

Сочетание этих факторов существенно повышает качество результатов измерений. Спектрофотометр Photon RT разработан с учетом этих требований.

Photon RT: Низкий уровень шума /высокая стабильность базовой линии (УФ диапазон)

Методика испытаний: 14 последовательных измерений в течение одного часа

Photon RT: уровень собственных шумов прибора (УФ диапазон)

Процедура тестирования: измерение пропускания с полностью закрытым измерительным каналом

Photon RT: Низкий уровень рассеянного света (УФ диапазон)

Процедура испытания: измерение пропускания боросиликатного стекла без пропускания в УФ

Ниже приведены примеры УФ зеркал и УФ просветляющих покрытий, измеренные с помощью спектрофотометра Photon RT. Для всех тестов были использованы стандартные настройки прибора без сглаживаний спектра.

Пример 1: УФ зеркало, оптимизированное на 193 нм

Пример 2: УФ зеркало, оптимизированное на 340 нм. S/P Отражение на 30⁰, 45⁰, 60⁰ падения излучения

Пример 3: Просветляющее УФ покрытие, оптимизированное на 203 нм

Светоделительные кубики – это оптические компоненты, используемые для разделения света на два луча (иногда три луча, например Х-кубики или RGB-кубики) при заданном соотношении пропускания и отражения. Кубик состоит из двух склеенных прямоугольных призм, обычно с многослойным интерференционным покрытием на внутренней гипотенузе, а все остальные четыре грани имеют просветляющее покрытие для уменьшения потерь из-за отражения. Кубики могут быть в оправе или без оправы.

Светоделительные кубики могут быть неполяризующими (дихроичными), поляризационными или делителями интенсивности.

• Неполяризирующие или дихроичные светоделители предназначены для деления падающего света по длинам волн.
• Светоделители интенсивности используются, когда падающий свет должен быть по разделен заранее определенному отношению независимо от поляризации излучения.
• Поляризационные светоделительные кубики предназначены для разделения падающего света на S и Р компоненты поляризации, а не только по лишь по пропусканию и отражению. Качество поляризационного кубика определяется степенью и точностью отклонения луча прошедшего и отраженного поляризованного света, а также степенью констрастности.

Традиционно кубики измеряются под нормальным углом падения к фронтальной грани (или под углом 45⁰ к гипотенузе). Однако в новейших оптоэлектронных приборах используются усовершенствованные конструкции, в которых светоделители могут иногда или специально работать под различными углами падения излучения (устройства дополненной реальности, оптические компьютеры, проекционные системы нового поколения и т. д.)

Практически любые светоделительные кубики могут быть успешно измерены на спектрофотометре PHOTON RT при нормальном или переменных углах падения излучения. Ниже приведены несколько характерных примеров, демонстрирующих возможности спектрофотометра PHOTON RT.

Пример 1

Измерение пропускания и абсолютного зеркального отражения S- и P-поляризаций миниатюрного поляризационного кубика размером всего 5,0 x 5,0 мм при нормальном угле падения излучения, а также отрицательных / положительных углах. Максимальный угол падения излучения, который был достигнут, составил 22⁰.

Пример 2

Измерение пропускания S-поляризации и P-поляризации кубика с гранью 1” в диапазоне углов от + 20⁰ до -20⁰ с шагом 1⁰

Пример 3

Измерение S и P поляризации для пропускания и абсолютного отражения X-кубика

Одной из действительно уникальных особенностей спектрофотометра PHOTON RT является возможность проводить измерения в широком спектральном интервале. Самая насыщенная конфигурация нашего прибора позволяет проводить оптические измерения покрытий от 185 нм (УФ) до 5200 нм (ИК).

На протяжении всей истории нашей компании мы регулярно расширяем измерительные возможности наших приборов. С момента выхода на рынок много лет назад нашего первого спектрофотометра PHOTON RT с диапазоном 380-2500 нм мы постоянно ищем технические решения, разрабатываем новые технологии и проводим испытания для обеспечения измерений как ультрафиолетовой области спектра, так и в инфракрасной. Каждая новая веха - это не только новый рубежом для нашей команды, который требует уникальных решений. Это также и еще одна ступенька для движения вперед и вверх.

Многие из наших клиентов считают PHOTON RT самым предпочтительным метрологическим прибором для анализа оптических покрытий, в немалой степени именно из-за уникальных возможностей по широкополосным измерениям.

Ниже показан пример измерения абсолютного зеркального отражения золотого зеркала. Толщина слоя превышает 50 нм. Использовались стандартные настройки продукта. Измерение было проведено за один раз, без перерывов.