24.09.2014
Інфармуем Вас, што ў сувязі з пераездам у новае памяшканне ў кампаніі ЭссэнтОптыкс змяніўся юрыдычны і паштовы адрас, а таксама кантактная інфармацыя. Просім Вас ўлічваць новыя звесткі ў сваёй працы пры звароце ў нашу кампанію.
01.05.2014
Кампанія ЭссэнтОптыкс прадэманструе першы ў свеце сканіруючы спектрафатометр PHOTON RT, прызначаны для аптычных вымярэнняў у рэкордным дыяпазоне даўжыні хваляў 190-4900 нм
03.05.2013
Кампанія ЭссэнтОптыкс прадставіць першы ў свеце сканіруючы спектрафатометр з дыяпазонам вымярэнняў ад 190 нм да 4500 нм на найбуйнейшай выставе «Laser 2013 World of Photonics» (13-16 траўня 2013г, Мюнхен Германія).
13.03.2013
Кампанія ЭссэнтОптыкс прадэманструе свае апошнія распрацоўкі на выставе Фатоніка 2013 у Маскве 25-27 сакавіка 2013 года.
22.02.2013
На сайт кампаніі ЭссэнтОптыкс дададзены водгук прадпрыемства ЗАТ "Солар ЛС" аб эксплуатацыі сканируючага спектрафатометра PHOTON RT.
30.10.2012
На сайт кампании "ЭссэнтОптыкс" дададзены водгук прадпрыемства УП "КБТЭМ-ОМА" яб спектрафатометры PHOTON RT.
01.08.2012
Кампанія ЭссэнтОптыкс, вытворца спектрафатометраў і аптычных сістэм кантролю , пашырае сваю міжнародную прысутнасць дзякуючы новым дыстрыбутарскім дамовам з кампаніямі Indeco, Inc (Японія) і VM-TIM (Германія).
28.04.2012
Спектрафатометр PHOTON RT прызнаны лаўрэатам конкурсу Лазэрнай Асацыяцыі 2012 году.
27.12.2011
Ці можна дакладна і ўзнаўляема атрымліваць складаныя інтэрферэнцыйныя пакрыцці на звычайных вакуумных устаноўках серыі ВУ-2М? Пазнаёмцеся са справаздачай нашага заказчыка - навукова-тэхнічнага цэнтра "ЛЭМТ" БелОМА!
01.11.2011
Спектрафатометр Photon RT адзначаны медалём у катэгорыі "Лепшая інавацыйная распрацоўка" на праведзеным аптычным форуме ў Маскве "Optics-Expo 2011"
Спектрафатометр Photon RT
Адзіны прыбор, распрацаваны для вытворцаў оптыкі.
Спектрафатометр для вымярэння лінз і аб'ектываў LINZA 150
Першы ў свеце прыбор, распрацаваны для вымярэння лінз
Сістэма манахраматычнага кантролю AKRA
Надзейнае атрыманне пакрыццяў ад УФ да IЧ
Сістэма спектральнага кантролю IRIS
Узнаўляльнае атрыманне складаных аптычных пакрыццяў па спектрам прапускання ці адлюстравання